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首頁 > 產(chǎn)品中心 > 泰克Tektronix示波器 > 數(shù)字示波器 > DSA8300泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300簡要描述:泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300是一款良好的等效時間采樣示波器,為通信信號分析、串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡分析以及串行數(shù)據(jù)鏈路分析應用提供Z高的保真測量和分析功能。關(guān)鍵性能指標,超低時基抖動:在同時采集的Z多 8 條通道上,典型值為 425 fs使用 82A04B 相位參考模塊時,在Z多 6 條通道上 <100 fsZ佳的垂直分辨率 – 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器
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品牌 | TeKtronix/美國泰克 |
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泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300
DSA8300 是一款良好的等效時間采樣示波器,為通信信號分析、串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡分析以及串行數(shù)據(jù)鏈路分析應用提供zui高的保真測量和分析功能。
泰克數(shù)字分析儀采樣示波器DSA8300關(guān)鍵性能指標
主要功能
1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模塊。
2 僅適用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。
應用
杰出的性能,優(yōu)異的通用性
DSA8300 數(shù)字串行分析儀為開發(fā)和測試采用幾千兆位數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)的通信、計算機和消費電子提供了用途zui廣泛的工具。 它可以用來對這些產(chǎn)品中使用的器件、模塊和系統(tǒng)的光接口和電接口發(fā)射機進行檢定及*性測試檢驗。
此外,DSA8300 特別適合電接口信號路徑檢定,包括封裝、PCB 或電纜。 由于杰出的帶寬、信號保真度及可擴展性zui強的模塊化模塊,DSA8300 為當前和新興串行數(shù)據(jù)技術(shù)提供了zui高性能的 TDR 和互連分析能力、zui準確的信號損傷分析能力以及 BER 計算功能。
光接口眼圖測試
無源互連測試
zui后,由于杰出的信號保真度和分辨率,對要求超高帶寬、超精細垂直分辨率、低抖動和/或杰出時間間隔精度的電接口和光接口應用,DSA8300 提供了黃金標準。
DSA8300 擁有*的測量系統(tǒng)保真度及zui低的基本儀器抖動本底(對 >1.25 Gb/s 的串行數(shù)據(jù)信號,典型值為 425 fs RMS),保證zui準確地同時采集zui多 8 個高帶寬信號。 使用相位參考模塊 (82A04B) 時采集抖動可低至 100 fs RMS,使分析效果更佳。
多處理器結(jié)構(gòu)及每插槽數(shù)字信號處理器 (DSP) 提供了快速波形采集速率,縮短了進行可靠的檢定和*性測試所需的測試時間。
DSA8300 的通用模塊化結(jié)構(gòu)支持大量的且不斷增加的插件,您可以為測量系統(tǒng)配置各種您當前應用和未來應用的電接口模塊、光接口模塊和附件模塊。 DSA8300 提供了 6 個模塊插槽,可以同時容納一個時鐘恢復模塊、一個精密相位參考模塊和多個電接口或光接口采集模塊,可以讓系統(tǒng)性能與不斷演變的需求相適應。 由于能夠在不斷電的情況下插拔采樣模塊,DSA8300(適用于固件版本為 6.1 及以上的示波器)可以根據(jù)測試需求變化,更加靈活地配置 DSA8300。
該電接口模塊系列擁有業(yè)內(nèi)的信號保真度,包括 20 GHz 到 >70 GHz 的帶寬性能,光接口模塊支持從 125 Mb/s 到 100 Gb/s 以上的光接口測試,提供了超過 80 GHz 的光接口帶寬。 DSA8300 支持所有傳統(tǒng)的 8000 系列電接口和光接口采樣模塊和附件。1
此外,模塊配套功能,如單端和差分電學時鐘恢復、電接口采樣器靜電保護及連接流行的 TekConnect® 探測系統(tǒng),在高阻抗探測和差分探測中提供了*的泰克探頭性能。 另外,還提供用于 50 Ω 探測和 TDR 探測的低阻抗探頭。
DSA8300 及相關(guān)應用軟件完善的測量和分析功能進一步增強了 DSA8300 及其采樣模塊和附件的原始采集性能。 例如,IConnect® 應用軟件為無源電接口互連(封裝、印刷電路板、背板、電纜等)提供了完整的 TDR、S 參數(shù)和信號完整性分析,80SJNB 應用軟件則為光接口和電接口串行數(shù)據(jù)鏈路提供了完整的抖動、噪聲和誤碼率分析及通道和均衡分析和仿真功能。
1 DSA8300 不支持 80A06 碼型同步模塊,這一功能已經(jīng)被 DSA8300 集成高級觸發(fā)選項(選項 ADVTRIG)所代替。
抖動、噪聲、BER 和串行數(shù)據(jù)鏈路分析
抖動、噪聲和 BER 分析
三種軟件解決方案支持高速串行數(shù)據(jù)鏈路測量和分析:80SJARB、80SJNB Essentials 和 80SJNB Advanced。1
1 可以購買這些應用軟件,安裝在現(xiàn)有的帶有 DSA83UP 升級套件的 DSA8300 示波器上。
SDLA 分析:SDLA Visualizer 和 JNB 信號路徑
SDLA Visualizer 的良好功能現(xiàn)在完善了 JNB 的信號路徑功能。通過提供完整的 4 端口反嵌,SDLA Visualizer 擴展了 JNB 信號路徑的反嵌和通道仿真功能,它不僅建立插入損耗效應模型,還建立回波損耗和交叉耦合效應模型。SDLA Visualizer 還完善了 JNB中的DFE/FFE 接收機均衡支持,并新增 CTLE 均衡建模功能。
SDLA Visualizer 與 JNB Advanced 中內(nèi)置的信號路徑功能一起運行。在配置 SDLA Visualizer、選擇所需的測試點、應用模型后,該應用程序會將選定測試點的濾波器自動加載到信號路徑濾波器模塊中。
如果要求 DFE 或 FFE 均衡,這些參數(shù)可以迅速輸入 JNB 信號路徑中,然后可以進行zui終測量。
這些只是 SDLA Visualizer 提供的多種功能的部分實例。詳情請參閱 SDLA Visualizer 產(chǎn)品技術(shù)資料:www.tektronix。。com。
分析任意數(shù)據(jù)的抖動 (80SJARB)
DSA8300 系列使用的 80SJARB 抖動測量應用軟件適用于要求 J2 和 J9 抖動測量的 IEEE 802.3ba 應用。 它還可讓您對 NRZ 數(shù)據(jù)信號進行基本抖動測量,包括 PRBS31、隨機性業(yè)務和加擾數(shù)據(jù)。 這提供了一種入門級抖動分析功能,支持簡單的 Dual Dirac 模型抖動分析,沒有碼型同步要求。
80SJARB 可在自由運行模式下連續(xù)采集數(shù)據(jù),其采集和更新速率均超過了 IEEE 規(guī)定的 10,000 個數(shù)據(jù)點的zui低要求。
它為測得數(shù)據(jù)和推斷數(shù)據(jù)提供了抖動和眼圖張度浴缸曲線,為采集數(shù)據(jù)提供了直方圖。
80SJARB 抖動分析測量
測量 | 說明 |
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J2 | BER = 2.5e-3 時的總抖動 |
J9 | BER = 2.5e-10 時的總抖動 |
Tj | BER = 2.5e-12 時的總抖動 |
DJdd | 確定性抖動(Dual Dirac 模型) |
RJdd | 隨機性抖動(Dual Dirac 模型) |
80SJNB 抖動分析測量
測量 | 說明 |
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TJ@BER | BER 時的總抖動 |
J2 | BER = 2.5e-3時的總抖動 |
J9 | BER = 2.5e-10時的總抖動 |
RJ | 隨機抖動 |
RJ(h) | 隨機性抖動的水平分量 |
RJ(v) | 隨機抖動的水平成分 |
RJ(d-d) | 根據(jù) Dual Dirac 模型得出的隨機抖動 |
DJ | 確定性抖動 |
DDJ | 數(shù)據(jù)相關(guān)抖動 |
DDPWS | 數(shù)據(jù)相關(guān)脈寬收縮量 |
DCD | 占空比失真 |
DJ(d-d) | 在 Dual Dirac 模型中計算得出的確定性抖動 |
PJ | 周期性抖動 |
PJ(h) | 周期性抖動的水平成分 |
PJ(v) | 周期性抖動的垂直成分 |
EO@BER | BER 下水平眼圖張開 |
BUJ | 有界不相關(guān)抖動 |
NPJ | 非周期性抖動(不相關(guān),有界) |
SSC 幅度 | SSC 調(diào)制幅度,單位:ppm |
SSC 頻率 | SSSC 調(diào)制頻率,單位:ppm |
80SJNB 噪聲分析測量
測量 | 說明 |
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RN | 隨機噪聲 |
RN(v) | 隨機噪聲的垂直成分 |
RN(h) | 隨機噪聲的水平成分 |
DN | 確定性噪聲 |
DDN1 | 邏輯電平 1 上的數(shù)據(jù)相關(guān)噪聲 |
DDN0 | 邏輯電平 0 上的數(shù)據(jù)相關(guān)噪聲 |
PN | 周期性噪聲 |
PN(v) | 周期性噪聲的垂直成分 |
PN(h) | 周期性噪聲的水平成分 |
EO@BER | BER 上的垂直眼圖張開 |
BUN | 有界不相關(guān)噪聲 |
NPN | 非周期性噪聲 |
80SJNB Advanced(選項 JNB02)
80SJNB Advanced(選項 JNB02) 支持:
TDR(時域反射儀)應用
使用 80E10B 亞毫米分辨率和 IConnect® 真正阻抗輪廓,迅速識別問題的精確位置
DSA8300 是業(yè)內(nèi)性能zui高的全集成時域反射計 (TDR) 測量系統(tǒng)。 DSA8300 提供了高達 50 GHz 帶寬的及 15 ps 反射上升時間和 12 ps 入射上升時間的真正的差分 TDR 測量1,可以滿足當前zui苛刻的串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡分析 (SDNA) 要求。
80E10B 和 80E08B TDR 模塊擁有全面集成的獨立雙通道 2m 遠程采樣器系統(tǒng),使夾具減到zui小,保證了*的系統(tǒng)保真度。 獨立采樣器偏移校正技術(shù)保證快速簡便地反嵌夾具和探頭。 通過使用一個差分模塊的 TDR 階躍驅(qū)動一個線對,同時使用第二個差分模塊監(jiān)測第二個線對,用戶可以檢定輸入串擾。
DSA8300 是業(yè)內(nèi)功能zui齊全的 TDR 測量系統(tǒng),包含至多 4 個雙通道真正差分 TDR 模塊,從而具有快速準確的多通道阻抗和 S 參數(shù)表征。
P80318 真正差分 TDR 探頭和 P8018 單端無源手持式 TDR 探頭為檢定電路板阻抗和電接口信號提供了高性能探測解決方案。 P80318 是一種 18 GHz 100 Ω 輸入阻抗差分 TDR 手持探頭,可以對差分傳輸線進行高保真阻抗測量。 可以調(diào)節(jié)的探頭間隙支持各種差分線路間距和阻抗。 P8018 是一種 20 GHz 單端無源手持式 TDR 探頭。 P80318 和 P8018 都可以作為獨立式探頭使用,它們都采用專門設(shè)計,可以與 80A02 EOS/ESD 模塊結(jié)合使用,提供 EOS/ESD 保護功能。
1 上升時間為 10-90%。 80E10B 的典型反射上升時間 <10 ps。
幾千兆位信號路徑檢定和分析 – 串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡分析 (SDNA)
串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡分析
隨著數(shù)字電路的時鐘速率和上升時間不斷提高,互連信號完整性對數(shù)字系統(tǒng)的性能影響非常大。 在時域和頻域中對信號路徑和互連進行準確高效的串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡分析 (SDNA),對預測信號損耗、抖動、串擾、端接和振鈴、數(shù)字誤碼和眼圖劣化至關(guān)重要,以確保系統(tǒng)可靠運行。
泰克提供多個真正差分 TDR 模塊,這些模塊與 IConnect® 軟件相結(jié)合,可以以高達 –70 dB 的動態(tài)范圍進行 S 參數(shù)測量。 這種性能保證了在串行數(shù)據(jù)分析、數(shù)字設(shè)計、信號完整性和電接口*性測試應用中進行準確的、可重復的測量。
裝有 IConnect® 軟件的 TDR 模塊性能
TDR 模塊 | S 參數(shù)測量帶寬性能 |
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80E10B | 50 GHz |
80E08B | 30 GHz |
80E04 | 20 GHz |
通過長記錄長度采集技術(shù),IConnect® 提供了巨大的靈活性,在執(zhí)行 S 參數(shù)測量時獲得了所需的頻率范圍和頻率階躍。 可以采集zui多 1,000,000 點數(shù)據(jù)。
在結(jié)合使用 IConnect® 信號完整性 TDR 和 S 參數(shù)軟件及 DSA8300 時,您可以獲得高效、易用、經(jīng)濟的解決方案,基于測量數(shù)據(jù)評估幾千兆位互連鏈路和器件的性能,包括信號完整性分析、阻抗、S 參數(shù)和眼圖測試及故障隔離。
IConnect® 可以幫助您在幾分鐘內(nèi)、而不是幾天內(nèi)完成互連分析任務,加快系統(tǒng)設(shè)計時間,降低設(shè)計成本。 IConnect® 還可以進行許多串行數(shù)據(jù)標準要求的阻抗、S 參數(shù)和眼圖*性測試,及對幾千兆位互連進行全面的通道分析、Touchstone (SnP) 文件輸出建模。
故障分析 – 迅速識別問題位置
80E10B 擁有 12 ps 的典型 TDR 上升時間,提供了杰出的分辨率,可以zui快、地隔離封裝、電路板和芯片故障分析應用中的問題。
IConnect® 信號完整性 TDR 和 S 參數(shù)軟件
IConnect® S 參數(shù)軟件在 DSA8300 TDR 平臺上運行,為數(shù)字設(shè)計、信號完整性分析和互連*性測試中的 S 參數(shù)測量提供了、吞吐量zui高的方式,與類似帶寬的 VNA 相比,可以節(jié)約高達 50% 的成本,明顯加快測量速度。
您還可利用 IConnect® S 參數(shù)軟件的命令行界面,在使用 TDR 儀器進行的整套制造測試中自動進行 S 參數(shù)測量,明顯縮短測試時間,提高測量可靠性。 可以使用參考源(開路、短路、直通)簡便地校準 S 參數(shù),并可以選配 50 Ω 負荷,輕松實現(xiàn)測量、夾具反嵌及移動參考平面。 Touchstone 文件格式輸出可以簡便地共享 S 參數(shù)文件,進一步進行數(shù)據(jù)分析和仿真。
泰克提供了多款真正差分 TDR 模塊,這些模塊與 IConnect® 相結(jié)合,提供了帶寬高達 50 GHz 及動態(tài)范圍 –70 dB 的 S 參數(shù)測量能力。 這一性能超越了串行數(shù)據(jù)分析、數(shù)字設(shè)計和信號完整性應用的要求,串擾解析精度達到 1% (–40 dB),而電接口*性測試模板一般要求在 –10 至 –30 dB 的范圍內(nèi)進行測量。
IConnect® 軟件可讓您:
如需進一步了解 IConnect® 應用軟件,請參閱“IConnect® 信號完整性、TDR 和 S 參數(shù) SW – 80SICMX ? 80SICON ? 80SSPAR”產(chǎn)品技術(shù)資料。
光接口測試應用測量和分析工具
DSA8300 為滿足光接口測試應用專門設(shè)計的各種測量和分析工具。除標準幅度和定時參數(shù)測量外(如上升時間/下降時間、幅度、RMS 抖動、RMS 噪聲、頻率、周期等)外,DSA8300 的測量套件還包括為測量光接口信號訂制的測量(平均光接口功率、消光比、眼圖高度、眼圖寬度、光接口調(diào)制幅度 (OMA)、等等)。如需完整的測量清單,請參閱本產(chǎn)品技術(shù)資料的測量部分。
DSA8300 包括從 155 Mb/s 至 100 Gb/s 所有常用光接口標準的標準*性測試模板。DSA8300 模板測試系統(tǒng)能夠自動把標準模板和用戶模板擬合到采集進波形數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)。模板測試系統(tǒng)還可以基于模板違例總數(shù)或模板違例相對于模板測試單位間隔中采集的樣點數(shù)的比率,自動確定模板余量。用戶還可以創(chuàng)建定制模板,自動進行模板測試。另外還提供了直方圖和光標測量,分析 DSA8300 采集的光接口信號。
zui后,80SJNB 應用軟件支持全面分析光接口信號的抖動、噪聲和 BER。這一軟件的高級版本(選項 JNB02)支持評估有損傷的信號的加重和均衡。
產(chǎn)品分類
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